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美國International Light ILT2400+XSD340B 輻照計/照度計

美國International Light ILT2400輻照計可自由配置光探測器、輸入光學(xué)器件、過濾片和校準(zhǔn)片，用于測量Watts瓦特， Lumens流明， Watt/cm2瓦特/平方厘米， lux勒克斯和foot-candles等光學(xué)參數(shù)。測量速度高達100μs，內(nèi)置可充電電池持續(xù)長達8小時，4.3寸觸摸屏顯示，可橫向和縱向觀看，以手持價格研究質(zhì)量

關(guān)鍵字：ILT2400,XSD340B,美國International Light ILT2400,ILT2400輻照計,ILT2400照度計

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  • 美國International Light：美國 International Light 公司的多功能，輕便的輻射度計、照度計，可檢測紫外光， 可見光到紅外光的各波段，光參量的測量，對任意光學(xué)單位都可直接讀數(shù)。 產(chǎn)品包括：可見光光度測量，光輻射防護和利用測量系統(tǒng)， UV紫外應(yīng)用監(jiān)測和測量儀器， 分光光度計等。
品牌介紹
美國International Light
美國 International Light 公司的多功能，輕便的輻射度計、照度計，可檢測紫外光， 可見光到紅外光的各波段，光參量的測量，對任意光學(xué)單位都可直接讀數(shù)。 產(chǎn)品包括：可見光光度測量，光輻射防護和利用測量系統(tǒng)， UV紫外應(yīng)用監(jiān)測和測量儀器， 分光光度計等。
王經(jīng)理 13261731718
產(chǎn)品詳情

美國International Light ILT2400+XSD340B 輻照計/照度計產(chǎn)品簡介：

美國ILT2400+XSD340B輻照計365nm波長高能量曝光測量

ILT2400輻照計以手持價格提供研究級質(zhì)量，采用可分離探頭設(shè)計，具有8個量級的動態(tài)測量范圍，測量速度可達100μs，內(nèi)置可充電電池持續(xù)長達8小時，4.3寸觸摸屏顯示，可橫向和縱向查看讀數(shù)或圖形曲線。XSD340B探頭響應(yīng)波段326-401 nm，校準(zhǔn)于365nm波長，可測量3e-6 W/cm2至30W/cm2光源輻照強度。ILT測光表和探測器均帶NIST可溯源ISO17025認證校準(zhǔn)報告。

國際光學(xué)International Light ILT2400和XSD340B光刻膠測量系統(tǒng)用于326-401nm波段紫外線輻照度監(jiān)測，校準(zhǔn)于365nm光阻劑作用光譜，*確地知道光致抗蝕劑曝光的程度，可測量高達30W/cm2 高能量強度，用于PCB印刷電路板光及半導(dǎo)體業(yè)。


美國International Light ILT2400+XSD340B 輻照計/照度計探頭參數(shù)：

ILT XSD系列光刻膠輻照度探頭

ILT2400+XSD140A：量程4e-8 to 0.7 W/cm2，響應(yīng)波段320-475 nm，校準(zhǔn)于405nm波長

ILT2400+XSD340A：量程8e-7 to 10 W/cm2，響應(yīng)波段320-475 nm，校準(zhǔn)于405nm波長

ILT2400+XSD140B：量程7e-8 to 1 W/cm2，光譜范圍326-401 nm，*心波長365nm

ILT2400+XSD340B：量程3e-6 to 30W/cm2 高強度，測量光譜326-401 nm，校準(zhǔn)于365nm

美國International Light Photoresist光阻劑曝光輻照度測光表探頭選型

輻照計/探頭組合

響應(yīng)波長頻譜

測量范圍

類型及應(yīng)用

ILT5000, SED033/A/W

320-475 nm

2e-9 ~ 2 W/cm2

臺式，Photoresist光刻膠/光阻材料，
PCB板曝光系統(tǒng)，UVA光源，UV-Vis光源

ILT2400, SED033/A/W

320-475 nm

2e-7 ~ 2 W/cm2

手持式，Photoresist光刻膠/光阻劑，同上

ILT1000/A/W

320-475 nm

2e-7 ~ 2 W/cm2

手持式，Photoresist光刻/光阻劑，
PCB板曝光系統(tǒng)，UVA光源，UV-Vis光源

ILT1700, SED033/A/W

320-475 nm

7e-9 ~ 4 W/cm2

臺式，Photoresist光刻/光阻劑，同上

ILT2400, XSD140A

320-475 nm

4e-8 ~ 0.7 W/cm2

手持式，Photoresist光刻/光阻劑，
PCB板曝光系統(tǒng)，UVA光源，UV-Vis光源

ILT2400, XSD340A

320-475 nm

8e-7 ~ 10 W/cm2

同上，大功率高強度輻照探頭

ILT5000, SED033/B/W

326-401 nm

3e-10 ~ 0.2 W/cm2

臺式，Photoresist光刻/光阻劑，
PCB板曝光系統(tǒng)，UVA光源，UV-Vis光源

ILT2400, SED033/B/W

326-401 nm

2e-8 ~ 0.2 W/cm2

手持式，同上

ILT1700, SED033/B/W

326-401 nm

5e-9 ~ 0.5 W/cm2

臺式，同上

ILT1000/B/W

326-401 nm

2e-7 ~ 2 W/cm2

手持式，同上

ILT2400, XSD140B

326-401 nm

7e-8 ~ 1 W/cm2

手持式，Photoresist光刻/光阻劑，
PCB板曝光系統(tǒng)，UVA光源，UV-Vis光源

ILT2400, XSD340B

326-401 nm

2e-6 ~ 30 W/cm2

手持式，Photoresist光刻膠/光阻劑，高強度測量

ILT2400, SSD001

260-400 nm

6e-6 ~ 0.9 W/cm2

手持式，超薄傳感器，
PCB板曝光系統(tǒng)，UVA光源，UV-Vis光源

 另有UV固化測量系統(tǒng)ILT800傳送帶式紫外線固化設(shè)備曝光量測量，范圍5e-3 ~ 40 W/cm2；LT2400+XSD340AT7 320-475 nm，校準(zhǔn)于405nm*心波長，可測輻照強度范圍高達60 W/cm2。ILT紫外殺菌測光系統(tǒng)ILT2400+SED254/QT，手持式，低可見度環(huán)境，高功率紫外線強度應(yīng)用；ILT2400+SED185/NS185校準(zhǔn)于185nm，臭氧/殺菌、光解廢氣、水處理行業(yè)。